Лазерные сканирующие микроскопы Keyence

Лазерные сканирующие микроскопы Keyence — это исследовательские устройства, которые позволяют получить 2-хмерные и 3-хмерные изображения, узнать важные сведения о профиле поверхности, измерить толщину покрытий и др.

Рабочие показатели:

• Позволяют изучать структуру и топографию поверхности с возможностью установления перепадов высоты до 6 нм.
• Возможно работать с непрозрачными и прозрачными образцами разных форм и размеров.
• Благодаря особым алгоритмам имеют солидную скорость сканирования.
• Имеют инновационные алгоритм подавления шумов.
• Обладают солидным набором настроек.

Модель VK-X200

Технические характеристики:

• разрешение: 0,0005мкм;
• апохроматические объективы: 150х/0,95; 50х/0,95; 20х; 10х;
• наибольшее увеличение: 24000;
• функция Wide-Scan и C-laser DIC;
• бесконтактное и трехмерное измерение;
• сравнительный анализ;
• измеряет в разрезе радиус, угол, поперечное сечение, высоту и ширину профиля.

Модель VK-X1000

Технические характеристики:

• разрешение: 0,5 нм;
• увеличение: 200…24000;
• бесконтактная работа в XYZ координатах;
• возможна автоматическая корректировка восприимчивости лазера и высоты/угла наклона луча относительно исследуемого объекта;
• автоматическая настройка рабочих границ;
• трехмерное моделирование и сравнительный анализ;
• можно одновременно работать с несколькими крупными объектами.